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Photo de stock - Replacing the sample holder, FIB Control Pannel, Focused-Ion-Beam Nanofabrication Laboratory, Dual-Beam Focused-Ion-Beam FIB, Helios NanoLabTM DualBeamTM, Nanofabrication Tool, Nano-scale materials fabrication and manipulation, High-resolution Scanning Electron Microscopy, Nano-structural surface processing and device fabrication, CIC nanoGUNE, Nanoscience Cooperative Research Center, San Sebastian, Donostia, Gipuzkoa, Euskadi, Spain

Photo de stock: Replacing the sample holder, FIB Control Pannel, Focused-Ion-Beam Nanofabrication Laboratory, Dual-Beam Focused-Ion-Beam FIB, Helios NanoLabTM DualBeamTM.

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Code image : B20-1459197 Photographe : Javier Larrea Collection : agefotostock Licence utilisateur : Droits gérés Disponibilité en haute définition : Jusqu'à XL 50 MB A3 (5446 x 3631 px - 18.2" x 12.1" - 300 ppp)

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Javier Larrea

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